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長庚大學 電子工程學系
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陳始明教授

陳始明(Cher-Ming Tan)

教授

Email:cmtan_at_mail_dot_cgu_dot_edu_dot_tw
Tel: +886-3-2118800EXT5952
Fax: +886-3-2118700

研究興趣與方向:

工程產品可靠度統計分析
可靠度測試設計和執行
產品壽命分析
哀退和失效機理分析
產品可靠度內建的設計方法
可靠度模擬
設備維護策略方法

實驗室

可靠度中心 第二醫學大樓4樓

現職

教授

學歷

  • 新加坡國立大學電機和電子工程學士 (1980~1984)
  • 加拿大多倫多大學應用科學碩士 (1986~1987)
  • 加拿大多倫多大學應用科學博士 (1987~1992)

經歷

  • 新加坡快捷半導體公司失效分析工程師 (1984/5~1986/4)
  • 新加坡惠普科技股份有限公司研發工程師 (1986/5~1986/10)
  • 台灣旭興科技股份有限公司總經理特助 (1992/9~1993/10)
  • 台灣旭興科技股份有限公司品質和可靠度保證經理 (1993/11~1994/4)
  • 台灣旭興科技股份有限公司總經理室工程顧問 (1994/5~1996/10)
  • 特許半導體股份有限公司品保經理 (1996/11~1997/4)
  • 新加坡南洋理工大學講師 (1997/4/15~1998/12/31)
  • 新加坡南洋理工大學助理教授 (1999/1/1~1999/12/31)
  • 新加坡南洋理工大學副教授 (2000/1/1~2014/7/15)
  • 新加坡製造技術研究院兼任高級研究員 (2009/4~2014/7/15)
  • 天津市積體電路&計算系統工程中心科學顧問 (2013/2~)
  • 台灣長庚大學教授 (2014/7/15~)

專業學會資格

  • IEEE Senior Member (2000~)
  • IEEE Distinguished Lecture (2004~)
  • Senior Member, American Society of Quality (2007~)
  • Fellow, Singapore Quality Institute (2004~)
  • Fellow, Institute of Engineers, Singapore (2011~)

著作列表


簡歷

Prof Tan received his Ph.D in Electrical Engineering from the University of Toronto in 1992. He has 8 years of working experiences in reliability in electronic industry (both Singapore and Taiwan) before joining Nanyang Technological University (NTU) as faculty member in 1996 till 2014. He is now a Professor in Chang Gung University, Taiwan and Director of Centre of Reliability Science and Technology.
He has published more than 270 International Journal and Conference papers, and holding 10 patents and 1 copyright for reliability software. He has given more than 50 invited talks in International Conferences. He has written 5 books and 4 book chapters in the field of reliability. He is also the Series Editor of Springer Brief in Reliability.
He is the past chair of IEEE Singapore Section, Senior member of IEEE and ASQ, Distinguish Lecturer of IEEE Electronic Device Society on reliability, Founding Chair of IEEE Nanotechnology Chapter - Singapore Section, Standing Committee Chair of IEEE International Nanoelectronics Conference, Fellow of Institute of Engineers, Singapore, Fellow of Singapore Quality Institute, Ex-Chair of all the quality and reliability certification programs in Singapore, Executive council member of Singapore Quality Institute, Technical Assessor to the Certification Laboratories in Singapore, Ex-Director of SIMTech-NTU Reliability Lab. He is an Editor of IEEE TDMR, Member of Editorial Advisory Board of Microelectronics Reliability, Editor of The Scientific World Journal, Associated Editor of International Journal on Computing, and Guest Editor of International J. of Nanotechnology, Nano-research letter and Microelectronic Reliability. He is the only awardee in Singapore for the Ishikawa-Kano Quality Award from Japan.
His research interests include reliability and failure physics modeling of electronic components and systems, finite element modeling of materials degradation, reliability of Li Ion battery and high power LEDs, statistical modeling of engineering systems, nano-materials and devices reliability, and prognosis & health management of engineering system.
陳教授的學經歷背景為:1992年自多倫多大學取得電子工程博士。於1996年到2014年在新加坡南洋理工學院擔任副教授,於在大學任教之前,他在新加坡及台灣的電子工業可靠度領域已有八年的工業工作經驗。陳教授目前於長庚大學擔任教授一職亦是可靠度科學技術研究中心的主任。
陳教授目前已發表270篇以上國際期刊及研討會論文,擁有10項專利及1項可靠度軟體的版權。他目前已接獲50場以上的國際研討會議之演講邀請,他在可靠度領域已寫了5本書及在4本書的章節裡撰稿,他也是Springer Brief in Reliability的叢書總編輯者。
陳教授參加學術團體的經驗為:曾擔任國際電機電子工程師協會新加坡分會的主席、國際電機電子工程師協會和美國質量學會的資深會員、國際電機電子工程師協會擔任可靠度特聘講師、國際電機電子工程師協會新加坡分會擔任奈米科技組的創始組長、國際電機電子工程師協會國際奈米電子會議中擔任常設委員會主席、新加坡工程師學院院士、新加坡質量學院院士、新加坡質量與可靠度認證計劃前主席、新加坡質量學會常務理事、新加坡國家實驗室認證之技術評審員、南洋理工大學院及新加坡國科局(A*Star)聯合可靠度實驗室創辦主任、國際電機電子工程師學會元件與材料可靠度期刊(IEEE TDMR)主編、微電子可靠度期刊(Microelectronics Reliability)編輯顧問委員會成員、國際計算機期刊副主編、國際奈米科技期刊(Int. Journal of Nanotechnology)客座編輯、國際奈米研究短信(Nano-Research Letter)及微電子可靠度期刊客座編輯。他也是至2014年新加坡唯一獲得日本石川-卡諾質量獎的得獎者。
陳教授的研究領域包含:電子元件和系統的可靠度及其失效物理、材料衰退的有限元模擬、鋰電池及高功率LED之可靠度、工程系統統計、奈米材料及己件之可靠度、工程系統預測及健康管理。

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